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SEM/AFM-DME原子力顯微鏡高精度工作臺

供應數量:1399

發(fā)布日期:2025/4/16

有效日期:2025/10/16

原 產 地:丹麥

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DME原子力顯微鏡高精度工作臺:
適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系
高精度工作臺:在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標區(qū)域(ROI)
樣品定位是流暢和有效工作流程的關鍵,尤其是當樣品需要多種方法觀察或其處于自動化進程中
借助集成的參比光,定位精度優(yōu)于蔡司的標準樣品臺可以達到的500nm
尋找和發(fā)現(xiàn)ROI的過程能夠被更可靠的執(zhí)行


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